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对于大范围高精度成像，常采用显微与扫描相结合的方法，但是要得到高精度的图像需要高精度移动机台。就目前的技术来看，在较短的时间内迅速拍摄几幅在不同的灯光照射下的清晰图像，或用几台在不同位置的摄像机拍摄的图像，没有难度，因为当前CCD和CMOS器件的发展已相当成熟，用这些器件组装成的摄像机在精度、清晰度、速度等方面都已达到很高的水平。用固定的光照，基本相同的距离拍摄出一幅幅清晰的图像在摄像技术上比较容易做到。用X、Y丝杠、精密导轨、交/直流伺服电机实现按预定预先编排好的程序，使被摄的目标和摄像机做相对运动，按照运动-拍摄-运动的扫描成像规律拍摄图像，这种机械结构与自动控制技术目前也是比较成熟的技术[9]。但是这种大范围的扫描机台的定位精度一般在微米级以下，若要得到亚微米或纳米级精度，目前还有许多问题需要解决。图形识别法是将AOI系统中存储的数字化图形与实验检测图像比较，从而获得检测结果。汕尾工程AOI联系人

目前通用PC机CPU处理能力越来越强，鉴于通用工控CPU可靠性好、成本低、构建系统的研发周期短等特点，可把一幅图像自动分块（比如2块或4块），各块分别交给一个工控CPU去并行处理的高速处理技术，工控CPU之间可以进行信息交换，各个处理结果由一台主控机合成，这样就可以大幅度地提高图像预处理速度，甚至可以达到640MB/sec。图像处理与图形识别牵涉到从预处理后的图像中辨别零部件、检查零部件的品质、判别零部件的位置和方向等**图像处理算法。20世纪90年代前的Cognex公司在自动光学检测行业的辉煌，主要得益于该公司开发出的“归一化相关”(normalizedcorrelation)模板匹配方法，这种算法既不受图像摄取时的***光照强度影响，也不受被测物体（场景）的光照对比度的影响，它能够以亚像素精度给出比较好匹配结果。阳江直销AOI价格优惠视觉检测设备既可以和现有生产线无缝对接实时在线检测，也可以离线进行检测。

1)通过主机端传递传输的缺陷图像，完成对图像的LBPC编码，分配线程的个数，LBPC>；2)利用纹理存储技术获取主机端传输的图像，利用LBPC算子对图像纹理编码；3)利用共享内存技术，提取每个像素的编码值，统计纹理直方图，计算纹理直方图的卡方分布，将图像所有计算值全部传回主机端，**终不同尺寸图像在图像分类算法上CPU和GPU运行时间如表7-4和图7-16。CUDA架构是NVIDIA推出利用GPU实现并行计算的高效解决方案，利用Kernel函数机制，实现程序性能加速。本章分析GPU的通用并行计算硬件架构及CUDA编程模型带来高效执行效率，将CUDA技术更好用于PCB自动光学检测系统的复杂算法中，通过实验结果和分析得出：CUDA线程、GPU存储层析结构以及GPU的扩展性等技术的应用对系统性能与能效方面取得了***提升，满足了工业生产的实时性要求。

国外对于高速、高精度的伺服运动控制系统研究起步较早，特别是欧美、日本等工业技术先进的国家，投入了大量的人力和物力进行攻关，并取得了明显的成果。国内对于精密定位平台的研究起步于上世纪80年代，经过多年的研究取得了一定的成果，对于精密运动平台的研究是正处于高速发展阶段，我国在相关领域的研究水平取得了较大的进步，但是现阶段的技术水平与国际先进水平还存在很大的差距，其中涉及到的问题主要集中在驱动方式以及控制策略等方面，因此在相关技术方面仍需要进行深入的研究。随着技术的演进，AOI被拿来用在SMT组装线上检测电路板上的零件焊锡组装后或锡膏印刷后的品质状况。

控制软件运行在工控机上,负责运动数据分析处理、运动控制器控制、图像数据分析和处理等.整个软件由VC++编写,图3为软件的框架图.检测算法如图4所示.初始化程序把检测环境设定好,包括设置照明灯亮度、移动摄像机到指定位置、设置摄像机焦距参数等.摄像机分别获取水平、垂直照明模式下的图像数据,对获取的图像进行偏差校正,对X-Y平台造成的偏差进行校正.然后根据不同的检测项目,设置检测算法.检测算法分普通算法和元器件**算法,每种算法适合的检测项目如表1所示.可以根据需要,选择不同照明方式下的图像组合起来使用.***将获得的检测结果参数与标准值比较,从而获得是否合格的结果.照相机将被摄取目标转换成图像信号，传送给图像处理系统，根据像素分布和亮度等信息，转变成数字化信号。阳江直销AOI价格优惠

机器视觉检测技术可以完成以往所不能完成的任务。汕尾工程AOI联系人

自动光学检测中常用的成像方法有：基于扫描技术的高速点扫描、光电二极管或光电倍增管采集扫描点散射光成像的方法[5]；采用线阵传感器扫描成像的方法和采用面阵传感器成像的方法。**常用的光学成像传感器是线阵和面阵CCD或CMOS传感器，一般来说CCD传感器线性好、信噪比高，CMOS动态范围大、速度快[6-8]，至于哪种传感器更适合，需根据具体情况来定。比如对于精密测量来说，使用CCD传感器比较好，但对于成像物体表面有较强的反射或散射光的场合，使用CMOS传感器更好。汕尾工程AOI联系人

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